卡倫測(cè)控產(chǎn)品分為兩大模塊。一.可靠性試驗(yàn)設(shè)備，幾乎覆蓋所有電子元器件可靠性試驗(yàn)，是國(guó)內(nèi)可靠性試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品線齊全的供應(yīng)商。設(shè)備有：芯片氣體沖擊、步入式試驗(yàn)室、超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備、氣體式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)、液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱、耐候試驗(yàn)設(shè)備、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、高溫老化室、老化測(cè)試室、低氣壓試驗(yàn)機(jī)、QUV 紫外線老化試驗(yàn)機(jī)、淋雨試驗(yàn)箱、沙塵試驗(yàn)箱、鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)等。二．可靠性老化測(cè)試設(shè)備，如高溫反偏老化系統(tǒng)（HTRB)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)（H3TRB)、間歇式功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)（IOL)、HTOL 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)、HAST 高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)、IGBT 模塊高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)、HTGB 高溫柵反偏老化測(cè)試系統(tǒng)、高精密導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)等。

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