歐姆龍成功事例 | 研磨機wafer預載位的高精度檢測方案
應(yīng)用介紹
【行業(yè)】SEMI
【設(shè)備】wafer grinding 研磨機
【用途】線切割后的晶圓磨削
應(yīng)用場景
研磨機wafer預載位的有無檢測確認。
場景: 清洗槽/干燥槽內(nèi)檢測Cassette的有無
解決課題
1、不同工序時wafer襯底的粗糙度較大,尤其是拋光后的wafer作為鏡面體產(chǎn)生的正反光非常容易影響傳感器的檢測。
2、需要300~500mm的遠距離穩(wěn)定檢測,方便機械手吸取wafer。
3、需要對透明wafer襯底進行檢測。
價值提案
核心產(chǎn)品:光電傳感器 E3AS-HL500L
●透鏡自動校準配備高精度CMOS,穩(wěn)定檢測各種材質(zhì)wafer。
●擁有優(yōu)異的角度特性,在遠距離檢測時能針對線切割后的wafer的粗糙面進行穩(wěn)定檢測。
●需要檢測透明wafer時,可通過示教輕松設(shè)定高靈敏度背景。
相關(guān)產(chǎn)品
光電傳感器 E3AS-HL
https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3779/
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